2021年2月1日から5日にオンライン開催された IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE) において、増田助教が研究成果を発表しました (発表日は4日)。
Y. Masuda, J. Nagayama, T. Y. Cheng, T. Ishihara, Y. Momiyama, and M. Hashimoto, “Critical Path Isolation and Bit-Width Scaling Are Highly Compatible for Voltage Over-Scalable Design,” Proc. IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE), pp. 1260-1265, Feb. 2021.